CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
一、试块的尺寸规范
1.不同类型的试块应按照相关标准和规范确定其尺寸。
2.在制作试块时,应严格按照允许误差范围内的标准尺寸进行切割和加工。
3.试块的尺寸应符合质检要求,不应有明显的尺寸偏差和不合格的尺寸现
象。
二、试块的材料规范
1.试块的材料应符合相关产品标准,并通过质检部门]的检验合格。
2.不同类型的试块可能需要使用不同材料,应根据具体要求选用相应的标准
材料。
3.在试块的制作过程中,材料应保持干燥、清洁,杜l绝杂质和水分的污染。
产品改进：无损检测试块还可以用于研究产品的性能和改进。通过在试块上测试不同的材料或工艺参数，可以了解这些变化如何影响产品的性能。这种信息可以用于产品设计和制造的改进，从而提高产品的质量和性能
故障诊断：如果产品的检测结果与无损检测试块的已知特性存在显著差异，这可能意味着制造过程中出现了问题。这种差异可以用于故障诊断，帮助找出问题的原因并采取相应的纠正措施。
以上信息由专业从事非标试块定制的东瑞模具于2024/12/17 18:41:38发布
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